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Winlight X propose l'étude et la réalisation de composants et systèmes compatibles ultra-vide spécifiques aux applications rayons X pour les
synchrotrons, les lasers électrons libre, les diagnostics X, les applications X-EUV, notamment :
Miroirs X
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avec des erreurs de pente meilleures que 0.5 µrad RMS et une rugosité réalisé par superpolissage
qui peut descendre à 1.2 ? RMS. Les miroirs sont ensuite traités avec ou sans couche d'accrochage avec des
traitements tels Pt, Ir, Ru, Rh, Au, ...
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Courbeurs de miroirs
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Notre technologie (propriétaire) de courbeurs de miroirs sous ultra-vide s'adapte à tous type de miroirs, face dessus,
dessous, sur le côté, toutes les tailles jusqu'à des miroirs de 1400 mm. Elle permet de déformer le miroir soit
en ajoutant un simple terme de courbure, soit en générant un profil elliptique. Nos courbeurs sont équipés d'un système
de compensation de gravité et peuvent également recevoir des systèmes de refroissements pour le miroir en fonction de
la puissance absorbée. La qualité des benders permet de ne pas dégradé le miroir quelque soit le rayon de courbure appliqué
(par exemple de R = infini à R=1km)
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exemple de courbeur elliptique pour un miroir de 1300 mm
(ligne ODE à SOLEIL)
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Systèmes de refroidissement pour miroirs

Les technologies de refroidissement sont adaptées en fonction du besoin : refroidissement interne
par contact, par trempage, ...
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Notre Bureau d'Etudes prend en compte les contraintes de refroidissement des miroirs
en intégrant la géométrie du faisceau et le comportement sous charge du miroir. L'étude est
réalisée en modélisant le système complet et en réalisant une analyse par éléments finis sous logiciel NASTRAN.

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Systèmes Kirkpatrick-Baez (KB)
Nous proposons des systèmes KB de micro et nano-focalisation.
Nous pouvons fournir soit les miroirs seuls, soit les miroirs et leurs structures, soit le KB équipé de ses moyens de réglages.
WINLIGHT X ) propose également des outils de réglage adaptés (voir le KBaligner)
Systèmes de métrologie in-situ
Nous proposons des études et réalisations de bancs de métrologie specifiques adaptés à vos besoins.
Caméra X (Xray nanofocus sensor)
KBaligner
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